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镀层测厚仪的原理和其精度的影响因素介绍
  • 发布日期:2024-03-29     信息来源:      浏览次数:382
    • 镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域,是控制和保证九游娱乐·登录大厅质量不可少的检测仪器。
       
      工作原理:
      镀层测厚仪是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒到几分钟内完成。
       
      影响测量精度的原因有:
      (1)覆盖层厚度大于25µm时,其误差与覆盖层厚度近似成正比;
      (2)基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关;
      (3)任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响;
      (4)涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应,即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的;
      (5)试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大;
      (6)基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大;
      (7)涡流测厚仪对妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感.因此测量前应清除测头 和覆盖层表面的污物;测量时应使测头与测试表面保持恒压垂直接触。

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